Центр «Диагностические системы»

Заведующий: Белый Владимир Николаевич, член-корреспондент НАН Беларуси

Центр осуществляет разработку современных оптических методов и технологий для неразрушающего контроля и диагностики в промышленности и медицине, базирующихся на многоканальной лазерной опто-акустической дефектоскопии, многопараметрических методах анализа спектральной информации, фотоакустической спектроскопии, лазерной спекл-интерферометрии, микроскопии и профилометрии, основанной на использовании конических пучков; элипсометрии высокого пространственного разрешения, поляризационно-чувствительной скатерометрии, построении изображений во временах затухания флуоресценции (FLIM). В центре  проводятся исследования по приоритетным направлениям в области разработки систем безопасности  на основе контроля терагерцовых изображений и терагерцовых спектров.

В области лазерной нанобиологии и наномедицины с применением плазмонного резонанса разрабатываются био-наносенсоры для ранней диагностики различных заболеваний. На основе конфокальной сканирующей лазерной микроскопии и фемтосекундной спектроскопии  разрабатываются новые оптические методы диагностики и лечения онкологических заболеваний. Созданы уникальные лазерные зонды и бесселевы лазерные пинцеты для манипуляции микро- и наночастицами.

Основные работы центра посвящены формированию, изучению свойств и перспективам применения новых типов металл-диэлектрических наноструктур, обладающих свойствами оптических метаматериалов. На основе гиперболических метаматериалов предложены и реализованы новые конфигурации плоских линз (так называемые суперлинзы) ближнего и дальнего поля.

В центре исследуются свойства лазерных пучков со сложной пространственной структурой (гауссовых, бесселевых, конических, лагерр- и бессель-гауссовых, вихревых и сингулярных, квазибездифракционных спекл-полей, пучков Эйри и других) при их распространении и преобразовании в анизотропных, неоднородных и рассеивающих средах, методы и устройства практического применения этих результатов в машиностроении, микро- и оптоэлектронике.