Назначение и область применения:

Разработан и изготовлен сканирующий ближнеполевой оптический микроскоп. Разработана технология изготовления оптоволоконных зондов для сканирующего ближнеполевого оптического микроскопа и технология изготовления высокодобротных датчиков поверхности на основе оптоволоконных зондов и кварцевого камертона.
Разработанный и изготовленный сканирующий ближнеполевой оптический микроскоп (СБОМ) предназначен для получения топографического и оптического изображения прозрачного объекта с латеральным разрешением порядка 50-100 нм по топографическому и оптическому каналам и 0,5 нм по высоте. Диапазон сканирования в горизонтальной плоскости 50х50 мкм, в вертикальном направлении – 7 мкм.
Области применения СБОМ – физика твердого тела, тонкопленочные технологии, нанотехнологии, микроэлектроника, оптика, испытательные системы прецизионной механики, магнитной записи, вакуумной техники, биологические исследования и др.
СБОМ может использоваться в научных и промышленных лабораториях.Он позволяет решать следующие актуальные задачи нанодиагостики, наноструктурного анализа: